한국전자통신연구원(ETRI)이 안리쓰(Anritsu)의 벡터 네트워크 분석기(VNA) ‘MS46122B’를 활용한 ETRI 실내투과형 RIS(Reconfigurable Intelligent Surface, 재구성 지능형 표면) 기술 실험을 진행했다. 차세대 고주파 통신 기술로 주목받고 있는 RIS 기술 연구에 있어 정확하고 유연한 측정 환경이 핵심으로 떠오르고 있다. RIS는 고주파 신호의 실내 통과를 돕는 기술로, 특히 건물 유리창을 통한 밀리미터파(mmWave) 통신에서 발생하는 전파 감쇠 문제 해결에 큰 가능성을 보이고 있다. 특히 이번에 개발된 ETRI의 기술은 투명한 PET 필름 형태의 초소형 안테나 배열을 창호에 부착해 별도의 중계기 없이도 신호 투과율을 극대화할 수 있다는 점에서 주목을 받고 있다. ETRI가 공개한 실내 통신용 투명 RIS 기술 실험 장면에서는 안리쓰의 벡터 네트워크 분석기(VNA) MS46122B가 주요 계측 장비로 활용됐으며, 소형 장비에서의 고정밀 측정 성능을 입증했다. 실험에서는 안리쓰의 2-port VNA인 MS46122B를 이용해 RIS 필름을 부착한 유리와 일반 유리 간의 S-파라미터 및 투과 손실 비교 측정이 진행
키사이트테크놀로지스가 세 개의 새로운 고주파수 모델(26.5 GHz, 44 GHz, 54 GHz)로 확장된 SSA-X 신호 소스 분석기 포트폴리오를 21일 공개했다. 이를 통해 키사이트는 무선 주파수(RF) 엔지니어들에게 고급 무선 통신, 레이더, 고속 디지털 애플리케이션을 위한 통합된 일체형 위상 노이즈 및 신호 소스 분석 솔루션을 제공한다. 진화하는 기술과 새로운 고급 표준의 등장으로 높은 주파수와 데이터 대역폭 및 데이터 전송 속도를 지원하기 위해 더욱 정밀하면서 깨끗한 신호 소스와 가장 낮은 수준의 위상 노이즈 및 지터가 요구된다. 그러나 이러한 애플리케이션에 대한 신호 소스의 위상 노이즈와 지터를 테스트 및 평가하는 작업에는 다수의 장비가 연결된 굉장히 복잡한 구성이 필요하며 많은 시간이 소요된다. 또한 RF 엔지니어들은 합성기, 클럭, 오실레이터와 같은 신호 소스를 완벽하게 특성화하기 위해 주파수 및 순시 전력 측정과 같은 다른 측정 작업과 스펙트럼 분석 작업도 진행해야 한다. 그리고 엔지니어들이 신호 및 데이터 전송 경로에 사용된 능동 디바이스의 잔류 위상 노이즈를 측정해야 할 수도 있다. 키사이트 SSA-X 신호 소스 분석기 시리즈의 새로운 고
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