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[영상][NI Week 2019] NI, 5G mmWave 반도체 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션 시연

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내쇼날인스트루먼트(NI)가 미국 텍사스주 오스틴에서 열린 ‘NI Week 2019’ 둘째 날인 5월 21일, 5G 밀리미터파(mmWave) 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션을 공개하고 시연도 성공적으로 마쳤다.

 

5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션은 도쿄일렉트론(Tokyo Electron), 폼팩터(FormFactor), 레이드 애쉬만(Reid-Ashman)과 공동 개발한 솔루션이다.

  

▲ 5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션 시연 영상 <영상 : 김동원 기자>

 

NI는 반도체 제조사들이 이 솔루션을 사용할 경우 5G mmWave IC 관련 리스크와 비용 부담을 줄이면서 시장 출시 기간을 앞당길 수 있는 방안을 마련할 수 있다고 소개했다.
 
5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션은 새롭게 정의된 mm Wave 주파수로 인한 문제점을 해결하고자 개발됐다.

 

실제로 mm Wave 주파수로 인해 프로브 인터페이스 보드(PIB), 프로브 타워, 프로브 카드로 구성되는 기존 프로브 기술의 신호 무결성이 어려워지고 있다.

 

이 문제를 해결하기 위해 NI와 도쿄일렉트론, 폼팩터, 레이드 애쉬만은 ▲신호 경로 단순화 ▲mmWave 어플리케이션에 필요한 향상된 신호 무결성 제공 ▲상하단 로드 프로브 어플리케이션 지원 등의 기능을 갖춘 다이렉트 도크(Dock) 프로브 솔루션을 개발했다.

 

 

▲ NI가 5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션을 공개했다. <영상 : 김동원 기자>

 

이 솔루션의 핵심 요소는 NI 반도체 테스트 시스템(STS)이다. STS에는 최근 5G 전력 증폭기, 빔 형성기(Beamformer) 및 송수신기(Transceiver)에 대한 멀티사이트 mmWave 테스트 기능 등이 추가됐다.

 

모듈성도 이점이다. 이 장비는 모듈성을 바탕으로 믹스 앤 매치(mix-and-match) mmWave 라디오 헤드가 있는 소프트웨어 및 베이스 밴드/IF 계측을 재사용할 수 있어, 향후 mmWave 주파수 대역도 처리 가능하다.

 

5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션은 구체적으로 ▲5G mmWave 테스트용 다이렉트 도크(Dock) 프로브를 제공하는 NI社의 STS ▲병렬 다이 테스트에 최적화 ▲신뢰 가능한 접촉 감도를 위해 고정밀 x, y, z축 제어를 지원하는 TEL社의 PrecioTM XL 자동 웨이퍼 프로버 ▲생산 테스트 환경에서 강력한 RF 신호 원형 및 장기적인 접촉기 수명을 지원하는 FormFactor社의 Pyramid-MW 프로브 카드 ▲효율성, 반복성, 제품 도킹 안전성을 위한 전동식 모션을 장착한 Reid-Ashman社의 OM1700 범용 매니퓰레이터로 구성됐다.

 

 

▲ NI가 5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션의 내부 모습. <영상 : 김동원 기자>

 

NI 기업전략 부회장 케빈 일시신(Kevin Ilcisin) 박사는 "업계 선두의 무선 칩 제조업체, 테스트 셀 통합 파트너, OSAT 및 5G 연구 커뮤니티와 일찍이 협업체제를 구축한 덕분에 NI 솔루션을 사용하는 고객들은 리스크를 최소화하며 mmWave 5G 생산 테스트에 임할 수 있게 됐다”며 “이는 중요한 과제들을 해결하기 위해 노력하고 있는 NI 고객들에게 최고의 가치를 제공하고자, 우선순위에 기반한 투자를 지속하는 NI의 의지를 잘 보여주는 예”라고 설명했다.









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