반도체 [넵콘 재팬 2025] 펨트론, 3D 측정기술로 반도체 수율 높인다
3차원 정밀측정 및 비전 기술을 기반으로 반도체 검사장비 개발 및 공급 펨트론이 일본 도쿄 빅사이트에서 열린 '넵콘 재팬 2025(NEPCON JAPAN 2025)'에 참가해 마이크로볼 범프 검사장비 '포세이돈 S'를 비롯한 장비 라인업을 소개했다. 펨트론은 3차원 정밀측정 및 비전 기술을 기반으로 SMT, 반도체, 전장, 이차전지 등 다양한 분야에 사용되는 납도포 검사장비(3D SPI), 3차원 장착 검사 장비(3D AOI, MOI), 웨이퍼 범프 3D 검사장비, 와이어 본딩 3D 검사장비, 이차전지 리드탭 공정·검사장비를 개발 및 공급하고 있다. 이뿐 아니라 코팅검사기(CI), Pin 검사기, 하부 검사기 등 시장이 필요로 하는 신규 장비를 지속해서 출시하며, 주사 전자현미경(SEM) 기술을 활용해 나노 및 바이오 등의 응용 분야까지 사업을 확장하고 있다. 장비 라인업에는 3D 인라인 솔더 페이스트 검사장비 '새턴(SATURN)', 3D AOI '아테나(ATHENA Series)', '이글 3D 8800TH(EAGLE 3D 8800TH)', '이글 3D 8800TWIN(EAGLE 3D 8800TWIN)', '트로이 8800 CI 시리즈(TROI 8800