엘파인이 동축 낙사 조명 'LCRG SERIES'를 출시했다. LCRG SERIES는 고스트 현상 방지 및 고해상도 이미지 추출이 가능한 동축 낙사 조명이다. 동축 낙사 조명은 일반적으로 LED 어레이에서 확산된 빛을 카메라 렌즈와 동일한 광축으로 정렬하기 위해 HALF MIRROR를 사용한다. 기존의 조명은 고스트 현상이 발생할 수 있는 위험성이 존재한다. 엘파인은 고해상도 이미지를 요구하는 시장 수요에 고해상도 카메라를 지원하며, 고스트 현상도 방지하는 동축 낙사 조명을 개발했다. 동축 낙사 조명의 HALF MIRROR는 고정밀 광학 GLASS를 사용해 고스트 이미지 방지 및 고해상도 이미징을 구현한다. 또한 특별한 조명 기술로 높은 출력과 균일성을 확보한다. 엘파인은 'LCRG SERIES' 외에도 다양한 신제품을 출시했다. 엘파인의 SWIR SERIES는 다양한 파장대의 SWIR 조명을 제공하여 특정 응용 분야에 맞는 최적의 조명 솔루션을 제공한다. 이러한 SWIR 조명은 가시광선보다 더 멀리서 비춰지는 물체나 재료의 정보를 포착할 수 있어 정밀 검사 및 분석에 매우 유용하다. SWIR KIT는 SWIR(Short-Wave Infrared) 영역을 쉽
엘파인이 동축 낙사 조명 'LCRG SERIES'를 출시했다. LCRG SERIES는 고스트 현상 방지 및 고해상도 이미지 추출이 가능한 동축 낙사 조명이다. 동축 낙사 조명은 일반적으로 LED 어레이에서 확산된 빛을 카메라 렌즈와 동일한 광축으로 정렬하기 위해 HALF MIRROR를 사용한다. 기존의 조명은 고스트 현상이 발생할 수 있는 위험성이 존재한다. 엘파인은 고해상도 이미지를 요구하는 시장 수요에 고해상도 카메라를 지원하며, 고스트 현상도 방지하는 동축 낙사 조명을 개발했다. 동축 낙사 조명의 HALF MIRROR는 고정밀 광학 GLASS를 사용해 고스트 이미지 방지 및 고해상도 이미징을 구현한다. 또한 특별한 조명 기술로 높은 출력과 균일성을 확보한다. 이 동축 낙사 조명은 CUBE TYPE과 HALF MIRROR TYPE 두 종류로 구성됐다. 헬로티 함수미 기자 |
검사 조명 면적 확장해 검사 결과 정확성 높여 엘파인이 주광원의 출사 경로의 테두리에 보조 광원을 설치하여 검사 대상물로의 검사 조명 면적의 확장하여 검사 결과의 정확성을 향상시킬 수 있는 표면 검사 장치를 개발했다. 기존의 자동화한 검사시스템의 단점을 보완했다는 평가를 받고 있다. ㈜엘파인이 검사 조명 면적의 확장이 가능한 표면 검사 장치를 개발해 업계의 주목을 받고 있다. 이 제품은 주광원의 출사 경로의 테두리에 보조 광원을 설치하여 검사 대상물로의 검사 조명 면적의 확장하여 검사 결과의 정확성을 향상시킬 수 있는 검사 장치다. 일반적으로 모든 제품의 생산 공정에서는 제조 공정 이후에 완성된 제품의 완성도를 평가하기 위해 결함 검사 공정을 거치게 된다. 이때 결함이란 제품의 특성을 저해하는 모든 요소를 통칭한다고 할 수 있으며, 매우 작아 육안으로는 보이지 않는 것으로부터 육안으로 확인할 수 있는 크기까지 다양한 크기의 결함이 존재할 수 있다. 비교적 큰 물체의 외형상 결함의 검사는 통상 임의로 샘플을 추출해 작업자가 직접 육안으로 제품을 검사하는 방식으로 이뤄지며, 작은 물체의 경우도 현미경 등을 이용해 작업자가 검사할 수도 있다. 그러나 이 경우 생산
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