한국전자통신연구원(ETRI)이 안리쓰(Anritsu)의 벡터 네트워크 분석기(VNA) ‘MS46122B’를 활용한 ETRI 실내투과형 RIS(Reconfigurable Intelligent Surface, 재구성 지능형 표면) 기술 실험을 진행했다. 차세대 고주파 통신 기술로 주목받고 있는 RIS 기술 연구에 있어 정확하고 유연한 측정 환경이 핵심으로 떠오르고 있다. RIS는 고주파 신호의 실내 통과를 돕는 기술로, 특히 건물 유리창을 통한 밀리미터파(mmWave) 통신에서 발생하는 전파 감쇠 문제 해결에 큰 가능성을 보이고 있다. 특히 이번에 개발된 ETRI의 기술은 투명한 PET 필름 형태의 초소형 안테나 배열을 창호에 부착해 별도의 중계기 없이도 신호 투과율을 극대화할 수 있다는 점에서 주목을 받고 있다. ETRI가 공개한 실내 통신용 투명 RIS 기술 실험 장면에서는 안리쓰의 벡터 네트워크 분석기(VNA) MS46122B가 주요 계측 장비로 활용됐으며, 소형 장비에서의 고정밀 측정 성능을 입증했다. 실험에서는 안리쓰의 2-port VNA인 MS46122B를 이용해 RIS 필름을 부착한 유리와 일반 유리 간의 S-파라미터 및 투과 손실 비교 측정이 진행
키사이트테크놀로지스가 빠르고 정확한EVM 측정값을 생성하고 5G 콤포넌트 설계 특성화를 50%까지 가속화하는 최초의 미드레인지 벡터 네트워크 분석기(VNA)인 키사이트 E5081A ENA-X를 출시했다고 6일 밝혔다. 초저지연 데이터 속도에 대한 수요가 꾸준히 증가하면서 차세대 무선 통신 시스템은 더 높은 무선 주파수(RF)에서 작동해야 한다. 5G NR(New Radio) 송신기가 이러한 운영상의 요구 사항을 충족하려면 RF 엔지니어는 전력 앰프(PA)와 같은 구성 요소의 설계와 성능을 완벽하게 테스트해야 한다. 현실적인 조건에서 PA 측정값을 얻으려면 여러 장비와 테스트 설정이 필요하기 때문에 많은 시간이 소요될 수 있다. 또한 5G 표준에 대한 PA 적합성을 인증하는 데 필요한 정확한 EVM 측정값을 얻으려면 고성능 VNA를 사용해야 한다. 새로운 키사이트 ENA-X는 단일 테스트 설정에서 테스트 중인 디바이스(DUT) 평면에 전체 벡터 보정을 제공하는 통합된 변조 왜곡 분석이 적용된 중간급 네트워크 분석기 플랫폼을 RF 엔지니어에게 제공해 이러한 요구를 해결한다. 고유한 아키텍처를 갖춘 ENA-X는 단일 연결로 다중 측정을 수행할 수 있어 테스트 설정
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